辛顿寿命测量仪 WCT-120TS

WCT-120TS （温度阶段）仪器展示了 WCT-120 仪器的独特测量和分析技术，并增加了在 25°C 至 200°C 温度范围内测量硅晶片载流子重组寿命的功能。辛顿仪器公司开发的准稳态光电导 (QSSPC) 寿命测量方法和瞬态光电导衰减技术均可用于使用此工具测量硅片寿命。

主要应用：

在一定温度范围内测量硅晶片中的载流子重组寿命。

其他应用：

-监测初始材料质量

-检测晶片加工过程中的重金属污染

-评估表面钝化和发射器掺杂扩散

-利用隐含 I-V 测量评估工艺诱导的分流

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