辛顿块状硅表征 BCT-400

Simple and accurate contactless measurement of true bulk lifetimes on as-grown or shaped silicon. Complies with SEMI Standard PV-13.

Shock absorbing, retracting pads that conform to ingot curvature enable the BLS-I to measure any surface of as-grown or shaped ingots.

主要应用：

-鉴定寿命在 1-10+ 毫秒范围内的高纯度硅

-Qualifying B-Cz silicon as grown, without special surface preparation

一Characterizing lifetime and trap density in multicrystalline blocks

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